Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos

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Título

Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos

Materia

Ciencias técnicas
Ciencias de la Educación

Descripción

La limitada estructuración del conocimiento disponible sobre las prácticas y referentes de Vigilancia Tecnológica (VT) en disímiles contextos, la diversidad de objetivos de gestión, las oportunidades que brindan las tecnologías de la web social y las demandas crecientes de las organizaciones cubanas para la generación de conocimientos para la implementación de los lineamientos de la Política Económica y Social constituyen motivaciones para la búsqueda de alternativas estandarizadas de VT, garantizando su generalización y utilidad. El problema científico es: los referentes de VT existentes carecen de una estructura estandarizada que permitan hacerlos comparables y generalizables para aplicaciones de diferentes complejidades, limitando la generación de capacidades en las organizaciones para encontrar el conocimiento que permita la solución de necesidades y objetivos. Un modelo de VT basado en patrones asociados a los Factores Críticos de VT (FCV) permitirá generar e incrementar sistemáticamente capacidades de VT según objetivos y escenarios de uso soportado en tecnologías de la web social es la hipótesis de la investigación. El Modelo de VT basado en patrones asociados a FCV, denominado MOVTUP, se conceptualiza por definiciones, alcance, objetivos, principios y tiene cuatro procedimientos para generar patrones, implementar patrones de VT en escenarios de uso, retroalimentar y mejorar el catálogo de patrones y el establecimiento de un soporte con tecnologías de la web social. El MOVTUP fue aprobado por grupos de expertos, comparado con 61 referentes, comprobado en ocho casos de estudios, validando que permite generar e incrementar capacidades de VT, demostrándose la utilidad y usabilidad del mismo.

Autor

Infante Abreu, Marta Beatriz
Delgado Fernández, Mercedes (Director)

Editor

Editorial Universitaria

Fecha

2013

Colaborador

Cuba, Ministerio de Educación Superior

Derechos

Formato

pdf Interactivo (5,09 Mb)

Idioma

Español

Tipo

Texto

Cobertura

La Habana

Colección

Citación

Infante Abreu, Marta Beatriz y Delgado Fernández, Mercedes (Director), “Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos,” Catálogo EDUNIV, consulta 19 de septiembre de 2024, http://repositorio.eduniv.cu/items/show/955.

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